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智慧財產法院行政判決 　　　　　　　　　　　　　　　　　 107年度行專訴字第10號 原　　　告　久元電子股份有限公司 代　表　人　汪秉龍（董事長） 訴訟代理人　陳文郎律師（兼送達代收人） 　　　　　　張東揚律師 複代理人　　孫德沛律師 被　　　告　經濟部智慧財產局 代　表　人　洪淑敏（局長）住同上 訴訟代理人　謝文元 參　加　人　蔡明傑 上列當事人間因發明專利舉發事件，原告不服經濟部中華民國10 6 年11月30日經訴字第10606313150 號訴願決定，提起行政訴訟 ，並經本院裁定命參加人獨立參加被告之訴訟，本院判決如下： 主 文 原告之訴駁回。 訴訟費用由原告負擔。 事實及理由 一、事實概要： 原告前於民國100 年4 月27日以「發光元件檢測與分類裝置 」向被告申請發明專利，經被告編為第000000000 號審查， 准予專利（申請專利範圍共11項），發給發明第I412763 號 專利證書。嗣參加人以該專利有違核准時即102 年6 月13日 施行之專利法（下稱102 年專利法）第22條第2 項規定，不 符發明專利要件，對之提起舉發。原告則於103 年6 月27日 提出申請專利範圍更正本( 刪除原請求項1 至4 、6 至8 及 更正請求項5 、9)，參加人於104 年9 月22日補充舉發理由 ，主張更正後請求項5 、9 至11仍有違前揭專利法規定，請 求項5 、9 有違同法第26條第1 項規定。案經被告審查，准 予更正，並認更正後專利違反前揭專利法第22條第2 項規定 ，以106 年6 月6 日（106 ）智專三（二）04178 字第1062 0600370 號專利舉發審定書為「103 年6 月27日之更正事項 ，准予更正。請求項5 、9 至11舉發成立，應予撤銷。請求 項1 至4 、6 至8 舉發駁回」之處分（下稱原處分，另本件 審理範圍乃更正後請求項，是以下所稱「系爭專利」指更正 後專利）。原告不服，就舉發成立部分提起訴願，經經濟部 以經訴字第10606313150 號決定駁回，遂向本院提起行政訴 訟。本院因認本件訴訟之結果，倘認訴願決定及原處分應予 撤銷，參加人之權利或法律上利益將受損害，乃依職權裁定 命其獨立參加本件被告之訴訟。 二、原告主張： ㈠舉發證據無法證明系爭專利請求項5不具進步性： ⒈系爭專利請求項5 之極性測試單元6 包括至少兩個焊墊極 性檢測探針60，位於容納在可旋轉轉盤11的容置部12內之 發光二極體封裝晶片C 的下方，可一同上下移動，穿過承 載底盤40的開口400 ，以電性接觸發光二極體封裝晶片C 的正極焊墊C1與負極焊墊C2，進而檢測正極焊墊C1與負極 焊墊C2的位置是否正確。而證據2 之極性測試裝置10組設 於送料軌道202 的出料端2022與轉動盤204 之間，係藉由 吸附式多頭捉取器103 先吸住抓取位於第一定位點A1的料 件30，接著移動到第二定位點A2，然後向下移動將料件30 置入極性檢測座101 的定位孔1011中，使料件30的各電極 對準定位孔1011中的六個電性搭接電極，進而檢測電極的 位置是否正確。由此可知，系爭專利請求項5 之極性測試 單元6 與證據2 之極性測試裝置10的組成結構不同，其焊 墊極性檢測探針60與證據2 之極性檢測座101 的構造也完 全不同，另系爭專利請求項5 之極性測試單元6 與可旋轉 轉盤11的元件相對結構特徵，和證據2 之極性測試裝置10 與送料軌道202 所組成的元件相對結構亦不相同；又系爭 專利請求項5 之焊墊極性檢測探針60與證據2 之極性檢測 座101 ，兩者檢測發光二極體封裝晶片C 、表面黏著型發 光二極體的電極位置是否正確的技術手段亦有差異，自無 法認為證據2 已揭露系爭專利請求項5 之極性測試單元6 之技術特徵。 ⒉證據4 所揭露的極性檢測機15雖然具有檢測極性位置的功 能，惟該極性檢測機15是採用何種技術手段來檢測晶片零 件3 之極性，以及該極性檢測機15之結構為何，並未在證 據4 之說明書及圖式揭露；將系爭專利請求項5 所界定之 極性測試單元6 與證據4 之極性檢測機15進行比較，可知 證據4 僅揭露極性檢測機15之位置以及功效而已，完全未 揭露極性檢測機15之結構，以及檢測晶片零件3 之極性位 置是否正確的技術手段。是以，即使在證據4 之基礎下， 亦無法藉由參酌申請時之通常知識，直接且無歧異得知系 爭專利之請求項5 所界定之極性測試單元6 的技術特徵。 ⒊證據3 之電子元件雙軌檢測設備、證據6 所揭示之圓形外 觀電子元件特性值檢測裝置，均未揭示類似系爭專利請求 項5 之極性測試單元6 的極性測試裝置。證據7 之電性測 定部35、證據8 之探針偵測器6 、證據9 之測定用探針20 ，作用均在於對工件W 進行電氣測定，與檢測工件W 之電 極位置是否正確無關，自均未揭示系爭專利請求項5 極性 測試單元6 的技術特徵，且證據7 、8 乃完整元件的測試 機構，與系爭專利之極性測試單元為完整光學檢測前的測 試步驟自有不同。 ⒋原處分以拼湊方式作成不具進步性之結論，並未說明舉發 證據何處教示組合之建議、提示或動機，顯有後見之明， 且系爭專利請求項5 相較於上開舉發證據，顯然具備可以 一次性完成對發光元件的數種檢測以及分類，同時可大幅 減少檢測、分類時間，而可提高作業效率。是以，在所有 的證據均未揭露系爭專利請求項5 所界定之極性測試單元 6 的結構特徵，以及相較於各證據具有以上功效的情況下 ，依進步性判斷原則，組合證據2 至4 與6 至9 ，亦無法 證明系爭專利請求項5 不具進步性。 ㈡舉發證據無法證明系爭專利請求項9 不具進步性： 系爭專利請求項9 所界定的極性測試單元6 與請求項5 所界 定的極性測試單元6 具有相同的技術特徵，上開舉發證據均 未揭示極性測試單元6 ，已如前述，又系爭專利請求項9 相 較於各舉發證據也確實具備可以一次性完成對發光元件的數 種檢測以及分類該無法預期的功效，在證據的組合並非可輕 易完成，各證據又未具有以上功效的情況下，組合證據2 至 4與6至9 ，亦無法證明系爭專利請求項9 不具進步性。 ㈢系爭專利請求項10至11，應具有進步性： 系爭專利請求項10直接依附於請求項9 ，請求項11依附於請 求項10，皆具備請求項9 之全部技術特徵，既然系爭專利請 求項9 具進步性，則系爭專利請求項10、11當然亦具有進步 性。 ㈣聲明求為判決：原處分有關「請求項5 、9 至11舉發成立， 應予撤銷」部分與訴願決定均撤銷。 三、被告則以下列等語抗辯： ㈠系爭專利請求項5 不具進步性： 證據2 為一種發光元件檢測裝置，證據2 圖1 之轉動盤204 、光色檢測裝置203 、極性測試裝置10、定位承座2041、極 性檢測座101 之電極1~5 等結構，及利用極性測試裝置10以 檢測圖11之料件30之電極0~5 正負極焊墊位置是否正確之技 術內容，已揭露系爭專利請求項5 利用旋轉單元、檢測單元 、極性測試單元等元件，以檢測該發光二極體封裝晶片正負 極焊墊位置是否正確之技術特徵。證據3 為一種電子元件檢 測裝置，圖4 之分類裝置250 、旋轉裝置220 ，分別揭示系 爭專利請求項5 之分類單元及旋轉單元。證據4 為一種發光 元件檢測裝置，圖1 之測盤1 、容槽11、反轉軌道2 、極性 測試機15、圖2 之氣道12，分別揭示系爭專利之可旋轉轉盤 、容置部、迴轉通道或極性對調單元、鄰近輸送單元之極性 測試單元及吸排氣兩用開口。證據8 為一種工件傳遞設備， 圖1 、3 、6 之可旋轉轉台3 ，以及探針偵測器6 向上移動 穿過底座4 的一開口，分別電性接觸工件w 等結構，已揭示 系爭專利之可旋轉轉盤及兩個探針向上移動，且穿過承載底 盤以分別接觸封裝晶片焊墊之技術特徵。系爭專利請求項5 之技術特徵已分別為證據2 至4 或證據8 揭示，而證據2 至 4 、6 至9 同為電子元件檢測技術領域，具有技術領域的關 聯性，且均為在一可旋轉轉盤上進行電子元件之測試、極性 對調、檢查、分類或搬運，具有功能或作用上的關聯性，彼 此間並無難以結合之情形，所屬技術領域中具有通常知識者 依證據2 至4 、8 之組合當可輕易完成系爭專利請求項5 之 整體技術內容，則再與證據3 、6 、9 組合，當然亦足以證 明系爭專利請求項5 不具進步性。 ㈡系爭專利請求項9 之主要技術特徵已分別為證據2 至4 或證 據8 所揭示，且各元件連接關係僅為鄰近可旋轉轉盤位置排 列之簡單修飾，所屬技術領域中具有通常知識者依證據2 至 4 、8 之組合當可輕易完成系爭專利請求項9 之整體技術內 容，故該等證據再與證據6 、7 、9 組合後亦可證明系爭專 利請求項9 不具進步性。 ㈢並聲明求為判決：駁回原告之訴。 四、參加人除援引被告答辯外，並補充： 舉發之初參加人只以4 件證據提出舉發，係因原告更正專利 權範圍，將請求項合併，才又提了其他舉發證據等語為抗辯 ，並聲明：駁回原告之訴。 五、本院得心證之理由： ㈠按「發明專利權得提起舉發之情事，依其核准審定時之規定 。」為現行專利法第71條第3 項本文所明定，其立法理由載 稱：「核准發明專利權之要件係依核准審定時之規定辦理， 其有無得提起舉發之情事，自應依審定時之規定辦理，始為 一致，爰予明定。」查系爭專利申請日為100 年4 月27日， 經被告審查後於102 年9 月5 日准予專利等情，有系爭專利 之專利申請書及專利說明書附卷可參（參申請卷第1 至20頁 ），是系爭專利有無撤銷之原因，應以核准審定時之102 年 專利法為斷。次按利用自然法則之技術思想之創作，且可供 產業上利用者，得依法申請取得發明專利，102 年專利法第 21條、第22條第1 項前段定有明文，但發明如係「為其所屬 技術領域中具有通常知識者依申請前之先前技術所能輕易完 成時」，仍不得取得發明專利，同法第22條第2 項亦有規定 。而對於獲准專利權之發明，任何人認有違反前揭專利法之 規定者，依同法第71條第1 項、第73條第1 項規定，得附具 證據，向專利專責機關舉發之。從而，專利有無違反前揭專 利法之情事而應撤銷其發明專利權，依法應由舉發人附具證 據證明之。本件參加人於舉發階段所主張之舉發理由為102 年專利法第26條第1 項、第22條第2 項，原告提出專利申請 專利範圍更正本，被告審查後，准予更正，並認系爭專利並 未違反102 年專利法第26條第1 項規定，然違反同法第22條 第2 項規定，而為系爭專利請求項5 、9 至11舉發成立應予 撤銷之審定，參加人於本件行政訴訟中對於102 年專利法第 26條第1 項之舉發理由並未再為爭執，故102 年專利法第26 條第1 項之舉發理由並不在本院審理範圍內（最高行政法院 106 年度判字第5 號判決反面意旨參照），是本件爭點為： 下列證據可否證明系爭專利請求項5 、9 至11違反102 年專 利法第22條第2 項規定：⒈證據2 至4 與證據6 至9 之組合 ，可否證明系爭專利請求項5 、9 不具進步性？⒉證據2 至 證據9 之組合，可否證明系爭專利請求項10、11不具進步性 ？ ㈡系爭專利之技術分析（其示意圖如附圖一所示）： ⒈在半導體製程中，往往會因為一些無法避免的原因而生成 細小的微粒或缺陷，而隨著半導體製程中元件尺寸的不斷 縮小與電路密極度的不斷提高，這些極微小之缺陷或微粒 對積體電路品質的影響也日趨嚴重，因此為維持產品品質 的穩定，通常在進行各項半導體製程的同時，亦須針對所 生產之半導體元件進行缺陷檢測，以根據檢測之結果來分 析造成這些缺陷之根本原因，之後才能進一步藉由製程參 數的對調來避免或減少缺陷的產生，以達到提升半導體製 程良率以及可靠度之目的。系爭專利提出一種發光元件檢 測與分類裝置，其包括：一用於輸送多個發光元件的旋轉 單元、一檢測單元及一分類單元。旋轉單元包括至少一可 旋轉轉盤、多個設置於可旋轉轉盤上的容置部、及多個分 別設置於多個容置部內的吸排氣兩用開口。每一個容置部 內可選擇性地容納多個發光元件中的至少一個，且每一個 發光元件為一底部具有正極焊墊及負極焊墊的發光二極體 封裝晶片。檢測單元包括至少一鄰近旋轉單元且用於檢測 每一個發光元件之檢測模組。分類單元包括至少一鄰近旋 轉單元且用於分類多個發光元件之分類模組。因此，本發 明可透過旋轉單元、檢測單元與分類單元的配合，以檢測 並分類發光二極體封裝晶片。 ⒉系爭專利申請專利範圍： ⑴第5 項： 一種發光元件檢測與分類裝置，其包括：一用於輸送多 個發光元件的旋轉單元，其包括至少一鎖固在一承載底 盤上的可旋轉轉盤、多個設置於上述至少一可旋轉轉盤 上的容置部、及多個分別設置於上述多個容置部內的吸 排氣兩用開口，其中每一個容置部內可選擇性地容納上 述多個發光元件中的至少一個，且每一個發光元件為一 底部具有一正極焊墊及一負極焊墊的發光二極體封裝晶 片；一檢測單元，其包括至少一鄰近該旋轉單元且用於 檢測每一個發光元件之檢測模組；一分類單元，其包括 至少一鄰近該旋轉單元且用於分類上述多個經過上述至 少一檢測模組檢測後的發光元件之分類模組；以及一極 性對調單元，其包括一用於反轉該發光二極體封裝晶片 的位置以對調該正極焊墊與該負極焊墊的位置之極性對 調模組，其中該極性對調模組包括一極性對調底座及一 成形在該極性對調底座上且從其中一容置部連通至另外 一容置部之迴轉通道；一輸送單元，其包括至少一鄰近 該旋轉單元且依據不同時序以依序對應每一個容置部之 輸送元件；以及一極性測試單元，其鄰近該輸送單元與 該旋轉單元，其中該極性測試單元包括至少兩個位於該 發光二極體封裝晶片下方以用於檢測該發光二極體封裝 晶片的正極焊墊與負極焊墊的位置是否正確之焊墊極性 檢測探針；其中，該極性測試單元在檢測中，兩個該焊 墊極性檢測探針一同向上移動且穿過該承載底盤的一開 口，以使得兩個該焊墊極性檢測探針分別電性接觸該發 光二極體封裝晶片的該正極焊墊與該負極焊墊。 ⑵第9 項： 一種發光元件檢測與分類裝置，其包括：一用於輸送多 個發光元件的旋轉單元，其包括至少一鎖固在一承載底 盤上的可旋轉轉盤、多個設置於上述至少一可旋轉轉盤 上的容置部、及多個分別設置於上述多個容置部內的吸 排氣兩用開口，其中每一個容置部內可選擇性地容納上 述多個發光元件中的至少一個，且每一個發光元件為一 底部具有一正極焊墊及一負極焊墊的發光二極體封裝晶 片；一極性測試單元，其鄰近該旋轉單元，其中該極性 測試單元包括至少兩個位於該發光二極體封裝晶片下方 以用於檢測該發光二極體封裝晶片的正極焊墊與負極焊 墊的位置是否正確之焊墊極性檢測探針；其中，該極性 測試單元在檢測中，兩個該焊墊極性檢測探針一同向上 移動且穿過該承載底盤的一開口，以使得兩個該焊墊極 性檢測探針分別電性接觸該發光二極體封裝晶片的該正 極焊墊與該負極焊墊；一極性對調單元，其包括一鄰近 該極性測試單元且用於反轉該發光二極體封裝晶片的位 置以對調該正極焊墊與該負極焊墊的位置之極性對調模 組，其中該極性對調模組包括一極性對調底座及一成形 在該極性對調底座上且從其中一容置部連通至另外一容 置部之迴轉通道；一檢測單元，其包括至少一鄰近該旋 轉單元與該極性對調單元且用於檢測每一個發光二極體 封裝晶片之檢測模組，其中該極性對調單元位於該極性 測試單元與該檢測單元之間；一表面檢查單元，其鄰近 該旋轉單元與該檢測單元，其中該表面檢查單元包括至 少一位於該發光二極體封裝晶片上方之正面影像擷取元 件；以及一分類單元，其包括至少一鄰近該旋轉單元且 用於分類上述多個經過上述至少一檢測模組的檢測與上 述至少一正面影像擷取元件的檢查後的發光元件之分類 模組，其中該表面檢查單元位於該檢測單元與該分類單 元之間。 ⑶第10項： 如申請專利範圍第9 項所述之發光元件檢測與分類裝置 ，其中上述至少一檢測模組包括一位於該發光二極體封 裝晶片下方以用於供給該發光二極體封裝晶片所需電源 之供電元件及一位於該發光二極體封裝晶片上方以判斷 每一個發光二極體封裝晶片為發亮的發光二極體封裝晶 片或非發亮的發光二極體封裝晶片之檢測元件。 ⑷第11項： 如申請專利範圍第10項所述之發光元件檢測與分類裝置 ，其中上述至少一分類模組包括至少一用於接收每一個 發亮的發光二極體封裝晶片之第一通行部及至少一用於 接收每一個非發亮的發光二極體封裝晶片之第二通行部 。 ㈢舉發證據說明： 證據2 為99年7 月1 日公開之我國第000000000 號「表面黏 著行發光二極體的極性測試方法及裝置」專利案（其示意圖 如附圖二所示）；證據3 為100 年3 月1 日公告之我國第I3 38129 號「電子元件雙軌檢測設備及方法」專利案（其示意 圖如附圖三所示）；證據4 為98年2 月21日公告之我國第M3 50807 號「測試包裝機之晶片極性反轉結構」專利案（其示 意圖如附圖四所示）；證據5 為99年10月16日公開之我國第 I409000 號「發光模組的檢測設備及檢測方法」專利案（其 示意圖如附圖五所示）；證據6 為91年6 月11日公告之我國 第467468號「圓型外觀之電子元件特性值檢測裝置」專利案 （其示意圖如附圖六所示）；證據7 為98年10月1 日公告之 我國第I315649 號「工件搬運系統」專利案（其示意圖如附 圖七所示）；證據8 為92年3 月1 日公告之我國第522767號 「工件傳遞設備」專利案（其示意圖如附圖八所示）；證據 9 為92年11月11日公告之我國第0000000 號「測定用探針驅 動裝置」專利案（其示意圖如附圖九所示）。上開舉發證據 之公告日或公開日，均早於系爭專利申請日（100 年4 月27 日），可為系爭專利之相關先前技術。 ㈣證據2 至4 與證據6 至9 之組合，足以證明系爭專利請求項 5 、9 不具進步性： ⒈關於系爭專利請求項5： ⑴經比對證據2 ： ①證據2 第1 圖揭示一種表面黏著型發光二極體的極性 測試裝置10，其中之轉動盤204 、定位承座2041及定 位承座內之氣管1021已分別對應揭示系爭專利之「旋 轉單元」、「容置部」及其上之「吸排氣兩用開口」 ，且證據2 第1 圖定位承座可容納發光元件，揭示系 爭專利「其中每一個容置部內可選擇性地容納上述多 個發光元件中的至少一個」，證據2 第11圖及說明書 第14頁至第15頁（見舉發卷第52背頁、51頁），揭示 料件30為一種表面黏著型發光二極體，各電極係位於 其底部平面，發光二極體具有六個電極（0~5 ），已 揭示系爭專利「每一個發光元件為一底部具有一正極 焊墊及一負極焊墊的發光二極體封裝晶片」（圖11之 料件30之電極0 ~5）。 ②證據2 第1 圖中之光色檢測裝置203 已對應揭示系爭 專利請求項5 之「檢測單元，其包括至少一鄰近該旋 轉單元且用於檢測每一個發光元件之檢測模組」。 ③證據2[先前技術] 段揭示「藉由一電性裝置的兩支探 針，分別接觸發光二極體的兩支針腳，以使其產生電 性導通，進而使發光二極體受點亮，再以一光色偵測 裝置擷取發光二極體發光時的光色，以偵測其光色的 分佈情形，然後，再依偵測的結果，將各發光二極體 分類」（見舉發卷第56至背頁），故於發光元件檢測 後進行元件之分類為一習知技術，是證據2 已揭示系 爭專利之一「分類單元，其包括至少一鄰近該旋轉單 元且用於分類上述多個經過上述至少一檢測模組檢測 後的發光元件之分類模組」。 ④證據2 說明書第16頁第17至22行揭示「本發明利用一 極性測試裝置，使待測的料件進料後，先進行電極位 置的測試，以確認其電極位置是否符合預設位置，並 搭配一旋轉座，以使電極位置不符的料件，經旋轉後 ，使電極位置轉至符合的位置，再進行相關的檢測」 （見舉發卷第51背頁），已揭示系爭專利請求項5 之 「一極性對調單元，其包括一用於反轉該發光二極體 封裝晶片的位置以對調該正極焊墊與該負極焊墊的位 置之極性對調模組」之技術特徵。 ⑤證據2 第1 圖及說明書第8 至9 頁揭示「送料軌道202 的一端為進料端2021，係組接於震動盤201 的出料端 2011，用以承接由震動盤201 送出的料件30，又轉動 盤204 ，則組設鄰近於送料軌道202 另一端的出料端 2022」（見舉發卷第53背頁至54頁），是證據2 之送 料軌道202 已對應揭示系爭專利請求項5 之「一輸送 單元，其包括至少一鄰近該旋轉單元且依據不同時序 以依序對應每一個容置部之輸送元件」。 ⑥證據2 第1 圖及說明書第9 頁第7 至9 行揭示「一極 性測試裝置10，係組設於送料軌道202 的出料端2022 、與轉動盤204 之間」（見舉發卷第54頁），已對應 揭示系爭專利之「一極性測試單元，其近該輸送單元 與該旋轉單元」之技術特徵；又證據2 說明書第5 頁 [ 先前技術] 段第7 至11行揭示「在進行光檢測時， 需使發光二極體固定後，藉由一電性裝置的兩支探針 ，分別接觸發光二極體的兩支針腳，以使其產生電性 導通，進而使發光二極體受點亮，再以一光色偵測裝 置擷取發光二極體發光時的光色」（見舉發卷第56頁 ）及第6 頁第2 至7 行揭示「為使進行偵測的結果正 確，發光二極體再進行檢測前，需使其兩支針腳，位 置於預定的位置，亦即其P 極及N 極係有固定的方向 性，如此當電性裝置的兩支探針與其接觸後，使發光 二極體產生發光接受檢測」（見舉發卷第56背頁）， 可知以探針作為發光二極體之極性測試已為系爭專利 申請前之習知技術，是證據2 已揭示系爭專利之「其 中該極性測試單元包括至少兩個位於該發光二極體封 裝晶片下方以用於檢測該發光二極體封裝晶片的正極 焊墊與負極焊墊的位置是否正確之焊墊極性檢測探針 」之技術特徵。 ⑦據上，證據2 已揭露系爭專利請求項5 之大部分技術 特徵，然證據2 揭示之極性對調單元，係當電極極性 位置不符時，則以旋轉方式使發光二極體進行圓周式 偏轉，以確保各待測的發光二極體於受測時其電極位 置均呈一致，與系爭專利請求項5 之「該極性對調模 組包括一極性對調底座及一成形在該極性對調底座上 且從其中一容置部連通至另外一容置部之迴轉通道」 之調整機制不同，且證據2 並未明確揭示系爭專利請 求項5 之「該極性測試單元在檢測中，兩個該焊墊極 性檢測探針一同向上移動且穿過該承載底盤的一開口 ，以使得兩個該焊墊極性檢測探針分別電性接觸該發 光二極體封裝晶片的該正極焊墊與該負極焊墊」之技 術特徵。 ⑵有關系爭專利請求項5 之「該極性對調模組包括一極性 對調底座及一成形在該極性對調底座上且從其中一容置 部連通至另外一容置部之迴轉通道」技術特徵部分，經 比對證據4 ，其中證據4 第1 圖揭示一種測式包裝機之 晶片極性反轉結構，其測盤係鎖固於一承載底盤上，說 明書第6 頁[ 實施方式] 第4 行至第7 頁第19行揭示「 本創作之測試包裝機之晶片極性反轉結構包括一測盤( 1 ) 及一反轉軌道( 2)，該測盤( 1)係延著圓周開設有 數個等距離之容槽( 11) ，並於每一容槽( 11) 之內側 壁分別設置有一氣道( 12) …氣道( 12) 之下方接設有 一管道（121 ），以連接至一高壓空氣源或一真空源而 達到吸取或釋放該晶片零件( 3)之功能…於實施組裝時 ，請參閱第一圖至第三圖，其係將反轉軌道( 2)故設於 測盤( 1)之旁側而位於進料軌道( 13) 與包裝帶裝填區 ( 14) 之間，且反轉軌道( 2)二端之入口( 21) 與出口 ( 22) 係分別與側盤( 1)上相鄰之二容槽( 11) 相對應 ，以供晶片零件( 3)改變方向而反轉極性」（見舉發卷 第22背頁、第21頁），已揭示系爭專利請求項5 上開「 該極性對調模組包括一極性對調底座及一成形在該極性 對調底座上且從其中一容置部連通至另外一容置部之迴 轉通道」之技術特徵。 ⑶有關系爭專利請求項5 之「該極性測試單元在檢測中， 兩個該焊墊極性檢測探針一同向上移動且穿過該承載底 盤的一開口，以使得兩個該焊墊極性檢測探針分別電性 接觸該發光二極體封裝晶片的該正極焊墊與該負極焊墊 」技術特徵，已為證據8 、或證據7 、或證據9 所分別 揭露： ①證據7 為一種工件搬運系統，其說明書第17頁第3 行 揭示「工件W 為LED 等，藉由一對探針35a ，35b 所 構成的電性測定部35對於工件w 進行電性測定之期間 ，同時地對工件w 藉由光學測定部36進行光學性測定 也可以」（見舉發卷第120 頁），且由第9 圖顯示探 針35a ，35b 係穿過平台底座2 的開口而與供件W 之 兩焊墊接觸（見舉發卷第114 背頁），已對應揭示系 爭專利請求項5 上開「該極性測試單元在檢測中，兩 個該焊墊極性檢測探針…與該負極焊墊」之技術特徵 。 ②證據8 為一種工件傳遞設備，其說明書第9 頁第13至 22行揭示「如圖1 及2 所示，轉台3 經由台驅動軸11 而被控制馬達12驅動，以鄰近於絕緣劑材料5 的上方 旋轉。當轉台3 在絕緣劑材料5 上方旋轉時，儲存在 轉台3 的工件儲存凹袋2 中的工件W 在底座4 上方滑 動而被傳遞至靠近探針偵測器6 的測量點。當工件W 被傳遞至靠近探針偵測器6 的測量點時，已經從絕緣 劑材料5 的上表面向下後退的探針偵測器6 向上移動 ，並且從絕緣劑材料5 的上表面向上凸出而與工件儲 存凹袋2 中的工件W 接觸。工件W 的電特性如此地由 探針偵測器6 測量」（見舉發卷第195 頁），同頁第 1 至4 行揭示「探針偵測器6 被設置成為通過設置於 構成底座4 的也作用成為導件的絕緣劑材料部分8 的 孔部分7 。探針偵測器6 也通過絕緣劑材料固持部分 9 的孔9a，使得探針偵測器6 不會與絕緣劑材料固持 部分9 接觸」（見舉發卷第195 頁），故證據8 已對 應揭示系爭專利請求項5 上開「該極性測試單元在檢 測中，兩個該焊墊極性檢測探針…與該負極焊墊」之 技術特徵。 ③證據9 為一種測定用探針驅動裝置，其第1 、3 、4 圖及說明書第8 頁第1 至3 段內容，揭示探針20係可 一同向上移動穿過探針導孔而可朝正上方上昇，以使 得兩個探針分別電性接觸封裝晶片之焊墊（見舉發卷 第185 背頁至186 頁、第189 背頁），故證據9 已對 應揭示系爭專利請求項5 上開「該極性測試單元在檢 測中，兩個該焊墊極性檢測探針…與該負極焊墊」之 技術特徵。 ⑷據上，無論是證據2 、4 、8 之組合，或證據2 、4 、 7 之組合，或證據2 、4 、9 之組合，均已揭露系爭專 利請求項9 之所有技術特徵，又證據2 、4 、7 、8 、 9 均為電子元件檢測技術領域，都是在進行電子元件之 測試、檢查，具有技術領域的關聯性，證據2 與證據4 均揭示在元件測試前進行電極極性檢測，當極性位置不 符合時對於電極位置進行對調，以使電極位置正確，以 利後續檢測之進行，故證據2 及證據4 之發明所欲解決 問題具有共通性，又證據2 已揭示利用電性裝置之兩支 探針結構與待測元件電極接觸進行元件之電性測試，證 據7 、8 、9 亦揭示利用探針結構進行與工件W 接觸來 進行工件W 的電性量測，證據2 與證據7 、8 、9 之探 針結構就功能及作用而言具有共通性，故有組合動機， 發明所屬技術領域中具通常知識者在依據證據2 所揭示 之發光二極體之檢測及分類裝置，為了解決發光元件極 性位置不符合預定位置時，來進行電極位置對調之問題 ，有合理動機會將證據2 之以旋轉方式進行電極位置對 調，置換成以證據4 利用一反轉軌道來進行極性對調， 再依據證據2 所揭示之以探針進行電極測試之結構，結 合證據8(或證據7 或證據9)之兩個探針一同向上移動且 穿過該承載底盤的一開口，以使得兩個探針分別電性接 觸封裝晶片之焊墊之技術特徵，而完成系爭專利請求項 5 之發明，因此，證據2 、4 、8 之組合，或證據2 、 4 、7 之組合，或證據2 、4 、9 之組合，均已足以證 明系爭專利請求項5 不具進步性。又因證據2 至4 、6 至9 均為進行電子元件之測試、檢查之技術，具有技術 領域的關聯性，而證據2 、4 、8 之組合，或證據2 、 4 、7 之組合，或證據2 、4 、9 之組合，足以證明系 爭專利請求項5 不具進步性，已如前述，則證據2 至4 與6 至9 之組合，自當亦足以證明系爭專利請求項5 不 具進步性。 ⒉關於系爭專利請求項9： ⑴系爭專利請求項9 ，為一種發光元件檢測與分類裝置， 與系爭專利請求項5 之差異在於請求項9 係增加「一表 面檢查單元，其鄰近該旋轉單元與該檢測單元，其中該 表面檢查單元包括至少一位於該發光二極體封裝晶片上 方之面影像擷取元件」，及於分類單元中增加「與上述 至少一正面影像擷取元件的檢查後的發光元件之分類模 組，其中該表面檢查單元位於該檢測單元與該分類單元 之間」。 ⑵證據3 揭示一種電子元件檢測裝置（圖4 之電子元件雙 軌檢測設備），第1 至4 圖中揭示於電子元件設備中包 含有一旋轉裝置40、校正裝置50、拍攝裝置60及分類裝 置250 ，其中，分類裝置係在檢測完的電子元件中，將 位於最外側軌道中的電子元件分為合格品和不合格品( 證據3 請求項1)，拍攝（照相機) 裝置60，用以拍攝由 該校正裝置50調整的電子元件的各面形狀（說明書第6 頁倒數第2 行，見舉發卷第36背頁) ，故證據3 已揭示 系爭專利請求項9 之表面檢查單元及影像擷取元件。此 外，依證據7 第9 、10圖及說明書第17頁第3 至15行所 揭示之內容（參舉發卷第120 頁），其中畫像檢查部42 及其攝影頭38已對應揭示系爭專利請求項9 之表面檢查 單元及其影像擷取元件。因此，證據3 或證據7 ，均已 揭示系爭專利請求項9 「一表面檢查單元，其鄰近該旋 轉單元與該檢測單元，其中該表面檢查單元包括至少一 位於該發光二極體封裝晶片上方之面影像擷取元件」及 「與上述至少一正面影像擷取元件的檢查後的發光元件 之分類模組，其中該表面檢查單元位於該檢測單元與該 分類單元之間」之技術特徵。又證據2 至4 與6 至9 之 組合可證明系爭專利請求項5 不具進步性，業如前述， 而系爭專利請求項9 既包含請求項5 之技術特徵，則證 據2 至4 與6 至9 之組合，當亦可證明系爭專利請求項 9 不具進步性。 ㈤證據2 至證據9 之組合足以證明系爭專利請求項10、11不具 進步性： ⒈關於系爭專利請求項10： ⑴關於系爭專利請求項10係依附於系爭專利請求項9 之附 屬項，其進一步界定「其中上述至少一檢測模組包括一 位於該發光二極體封裝晶片下方以用於供給該發光二極 體封裝晶片所需電源之供電元件及一位於該發光二極體 封裝晶片上方以判斷每一個發光二極體封裝晶片為發亮 的發光二極體封裝晶片或非發亮的發光二極體封裝晶片 之檢測元件」。 ⑵依證據7 第9 、10圖及說明書第17頁第3 至15行所揭示 之內容（見舉發卷第120 頁），其中電性測定部35、及 光學測定部36已對應揭示系爭專利請求項10之供電元件 及檢測元件，另證據5 圖3 揭示至少一檢測模組（檢測 設備10）包括一位於該發光二極體封裝晶片（81發光二 極體）下方以用於供給該發光二極體封裝晶片所需電源 之供電元件（電性導接機構50）及一位於該發光二極體 封裝晶片上方以判斷每一個發光二極體封裝晶片為發亮 的發光二極體封裝晶片或非發亮的發光二極體封裝晶片 之檢測元件（積分檢測器10），亦已對應揭示系爭專利 請求項10之供電元件及檢測元件，故證據5 或證據7 已 對應揭示系爭專利請求項10之附屬技術特徵。因證據5 與證據2 至4 、6 至9 均為電子元件檢測技術領域，均 為進行電子元件之測試、檢查，具有技術領域的關聯性 ，且證據7 或證據5 均揭示於LED 發光元件檢查設備中 同時設置供電元件及檢測元件，以進行發光元件之電性 及光學檢測，故就解決問題、功能或作用上具有共通性 ，故兩者具組合的動機，而證據2 至4 與6 至9 之組合 ，可證明系爭專利請求項9 不具進步性，已如前述，則 證據2 至9 之組合，亦足以證明系爭專利請求項10不具 進步性。 ⒉關於系爭專利請求項11： ⑴系爭專利請求項11係依附於系爭專利請求項10之附屬項 ，其進一步限縮「其中上述至少一分類模組包括至少一 用於接收每一個發亮的發光二極體封裝晶片之第一通行 部及至少一用於接收每一個非發亮的發光二極體封裝晶 片之第二通行部」。 ⑵證據2[先前技術] 段已揭示以一光色偵測裝置擷取發光 二極體發光時的光色，以偵測其光色的分佈情形，再依 據偵測的結果，將各發光二極體分類（見舉發卷第55至 56頁），另證據7[先前技術] 段已揭示於發光元件進行 電性檢測後依據偵測判斷良否被分類而收納，發明所屬 技術領域中具通常知識者可依據上開證據之教示輕易思 及將分類模組包括至少一用於接收每一個發亮的發光二 極體封裝晶片之第一通行部及至少一用於接收每一個非 發亮的發光二極體封裝晶片之第二通行部，以進行發光 元件之分類（見舉發卷第127 背頁），故證據2 或證據 7 已揭示系爭專利請求項11之附屬技術特徵，又證據2 至9 之組合，可證明系爭專利請求項10不具進步性，已 如前述，則證據2 至9 之組合，亦足以證明系爭專利請 求項11不具進步性。 ㈥原告主張不可採之理由： 原告雖主張：證據2 極性測試裝置10之組成結構、技術手段 與系爭專利請求項5 之極性測試單元6 完全不同，且極性測 試裝置10與送料軌道202 所組成的元件相對結構亦與系爭專 利不同，而證據4 僅揭露極性檢測機15之位置以及功效而已 ，完全未揭露極性檢測機15之結構，以及檢測晶片零件3 之 極性位置是否正確的技術手段，無法由證據4 直接且無歧異 得知系爭專利之請求項5 所界定之極性測試單元6 ；證據7 、8 乃完整元件的測試機構，與系爭專利之極性測試單元為 完整光學檢測前的測試步驟自有不同；原處分以拼湊方式作 成系爭專利不具進步性之結論，並未說明舉發證據何處教示 組合之建議、提示或動機，顯有後見之明；系爭專利相較於 證據2 至4 、6 至9 ，顯然具備可以一次性完成對發光元件 的數種檢測以及分類，同時可大幅減少檢測、分類時間，而 可提高作業效率云云。惟查： ⒈本院並未認定單獨證據2 或證據4 即可揭露系爭專利請求 項5 、9 之「極性測試單元」所有技術特徵，有關系爭專 利請求項5 「極性測試單元」所進一步界定「該極性檢測 單元在檢測中，兩個該焊墊極性檢測探針一同向上移動且 穿過該承載底盤的一開口，以使得兩個焊墊極性檢測探針 分別電性接觸該發光二極體封裝晶片的該正極焊墊與該負 極焊墊」之技術特徵係揭示於證據7 或證據8 或證據9 ， 已如前述，又系爭專利之極性測試屬於電性測試之一種， 既然證據7 、8 已揭示以探針與發光二極體之兩電性接腳 接觸來進行電性測試，自已揭露系爭專利有關極性測試之 技術特徵。再者，原告主張系爭專利請求項5 之極性測試 單元6 與可旋轉轉盤11的元件相對結構特徵和證據2 之極 性測試裝置10與送料軌道202 所組成的元件相對結構並不 相同云云，惟查證據7 第9 圖、或證據8 之第3 及4 圖、 或證據9 第1 至3 圖，已揭示極性測試單元包括至少兩個 焊墊電極檢測探針（即證據7 之探針35a ,35b；證據8 之 探針6 ；證據9 之探針20) ，位於容納在可旋轉盤（證據 7 之平台底座2 、搬運平台3 ；證據8 之轉台3 ；證據9 之旋轉台22）的容置部內之發光二極體封裝晶片W 的下方 ，故證據7 或證據8 或證據9 已揭示極性測試單元與可旋 轉轉盤的元件相對應結構特徵。 ⒉再者，雖證據4 並未明確揭示極性檢測之裝置結構，惟證 據2 或證據4 均已揭示電子元件電性測試前需進行極性檢 測之技術特徵，證據2 及4 亦均教示當極性位置不符預定 位置時需對該元件進行位置調整（對調），且證據4 亦明 確教示系爭專利之利用迴轉通道來進行元件電極對調之機 制，是依據該教示有合理動機會組合證據7 或證據8 或證 據9 之探針檢測結構來完成系爭專利之發明。此外，因證 據2 已揭示系爭專利請求項5 之檢測單元、分類單元、極 性對調單元、輸送單元及極性測試單元之各單元全部或部 分技術特徵，故證據2 亦具有可以一次性完成對發光元件 的數種檢測以及分類之功能，雖系爭專利請求項中所界定 之部分單元之技術特徵與證據2 係藉由不同結構或技術手 段達成，惟系爭專利與證據2 之差異之技術特徵亦已明確 揭示於其他的證據，且經審酌證據2 至證據9 間技術領域 之關連性，證據間之解決問題、功能及作用之共通性，經 本院綜合考量後認為，證據2 至9 間具有組合的動機，且 系爭專利之發明相較於舉發證據並未產生無法預期之功效 ，是系爭專利請求項5 、9 至11不具進步性，原告上開主 張均無理由。 六、綜上所述，證據2 至4 與證據6 至9 之組合，可證明系爭專 利請求項5 、9 不具進步性，證據2 至證據9 之組合，可證 明系爭專利請求項10、11不具進步性，是系爭專利請求項5 、9 至11違反102 年專利法第22條第2 項規定，因此，原處 分所為系爭專利「請求項5 、9 至11舉發成立，應予撤銷」 之審定，並無違誤，訴願決定予以維持，亦無不合，原告請 求撤銷該部分之原處分及訴願決定，並無理由，應予駁回。 據上論結，本件原告之訴為無理由，爰依智慧財產案件審理法第 1 條，行政訴訟法第98條第1 項前段，判決如主文。 中　　華　　民　　國　　107 　年　　8 　　月　　30　　日 　　　　　　　　　　智慧財產法院第二庭 審判長法 官　李維心 法 官　熊誦梅 法 官　蔡如琪 以上正本係照原本作成。 如不服本判決，應於送達後20日內，向本院提出上訴狀並表明上 訴理由，其未表明上訴理由者，應於提起上訴後20日內向本院補 提上訴理由書；如於本判決宣示後送達前提起上訴者，應於判決 送達後20日內補提上訴理由書（均須按他造人數附繕本）。 上訴時應委任律師為訴訟代理人，並提出委任書。（行政訴訟法 第241 條之1 第1 項前段），但符合下列情形者，得例外不委任 律師為訴訟代理人（同條第1 項但書、第2 項）。 ┌─────────┬────────────────┐ │得不委任律師為訴訟│ 所 需 要 件 │ │代理人之情形 │ │ ├─────────┼────────────────┤ │(一)符合右列情形之│1.上訴人或其法定代理人具備律師資│ │ 一者，得不委任律│ 格或為教育部審定合格之大學或獨│ │ 師為訴訟代理人　│ 立學院公法學教授、副教授者。 │ │ │2.稅務行政事件，上訴人或其法定代│ │ │ 理人具備會計師資格者。 │ │ │3.專利行政事件，上訴人或其法定代│ │ │ 理人具備專利師資格或依法得為專│ │ │ 利代理人者。 │ ├─────────┼────────────────┤ │(二)非律師具有右列│1.上訴人之配偶、三親等內之血親、│ │ 情形之一，經最高│ 二親等內之姻親具備律師資格者。│ │ 行政法院認為適當│2.稅務行政事件，具備會計師資格者│ │ 者，亦得為上訴審│ 。 │ │ 訴訟代理人 │3.專利行政事件，具備專利師資格或│ │ │ 依法得為專利代理人者。 │ │ │4.上訴人為公法人、中央或地方機關│ │ │ 、公法上之非法人團體時，其所屬│ │ │ 專任人員辦理法制、法務、訴願業│ │ │ 務或與訴訟事件相關業務者。 │ ├─────────┴────────────────┤ │是否符合(一)、(二)之情形，而得為強制律師代理之例外，│ │上訴人應於提起上訴或委任時釋明之，並提出(二)所示關係│ │之釋明文書影本及委任書。 │ └──────────────────────────┘ 中　　華　　民　　國　　107 　年　　9 　　月　　10 　日 　　　　　　　　　　　　　　　 書記官　邱于婷