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行 政 法 院 判 決
104年度判字第221號
上 訴 人 旭丞光電股份有限公司
代 表 人 徐靖桓
訴訟代理人 陳群顯
律師
被 上訴 人 經濟部智慧財產局
代 表 人 王美花
參 加 人 宸峯科技股份有限公司
代 表 人 陳鴻隆
上列
當事人間新型
專利舉發事件,上訴人對於中華民國103年6月
25日智慧財產法院102年度行專訴字第117號行政判決,提起上訴
,本院判決如下:
主 文
上訴駁回。
上訴審
訴訟費用由上訴人負擔。
理 由
一、
緣上訴人於民國96年4月27日以「成形於物件上的雷射標記
」申請新型專利,申請專利範圍共4項,經被上訴人編為第
00000000號進行形式審查准予專利後,發給新型第M328334
號專利證書(下稱
系爭專利);
嗣參加人於99年3月31日提
出證據2係93年7月發表之國立中山大學機械與機電工程學系
碩士論文「振動式微發電機之振動結構研究」、證據3係西
元1994年12月13日公告美國第0000000號「MULTIPLE-LINE
LASER WRITING APPARTUS AND METHOD」專利案、證據4係關
於證據2之詳細資訊網路頁面、證據5係100年4月20日比對完
成之系爭專利技術報告、證據6係95年7月發表之國立中正大
學機械工程學系碩士論文「水輔助雷射加工不鏽鋼304表面
微結構之研究」為證,主張系爭專利有違核准時
專利法第94
條第1、4項規定,對之提起舉發。上訴人於99年7月13日提
出系爭專利申請專利範圍更
正本,案經被上訴人審認合於當
時專利法第108條
準用第64條第1項第1款及第2項規定,准予
更正,本件舉發案依該更正本審查,核認系爭專利有違核准
時專利法第94條第4項規定,以101年10月29日(101)智專三
㈢05128字第10121165450號專利舉發
審定書為「舉發成立,
應
撤銷專利權」處分。上訴人提起
訴願,於
訴願機關尚未為
決定之前,被上訴人以其將參加人(原審及
訴願決定均誤載
為上訴人)未主張之舉發理由及範圍列為審查依據,有違訴
外裁判禁止原則為由,依訴願法第58條第2項規定,自行撤
銷原處分並重為審定,訴願機關
乃以102年1月22日經訴字第
10206100100號訴願決定書為訴願不受理決定在案;案經被
上訴人重行審認該更正本合於專利法第120條準用第67條第1
項第2款、第2項及第4項規定而准予更正,本件舉發案依該
更正本及
兩造當事人所提書證資料審查,核認系爭專利有違
核准時專利法第94條第4項規定,以102年5月22日(102)智專
三㈢05128字第10220655360號專利舉發審定書為系爭專利「
請求項1至4舉發成立應予撤銷」處分(下稱原處分)。上訴
人不服,循序提起訴願及
行政訴訟均遭駁回,遂提起本件上
訴。
二、上訴人起訴主張
略以:㈠、證據2雖提及雷射光焦點會持續
以圓形繞行,然觀諸該證據圖4-6至4-10,其繞行旨在利用
雷射光切割或貫穿工件,亦即將工件一部分沿其厚度方向去
除而形成一特定懸浮微結構,所
揭露技術內容與系爭專利於
工件表面形成「呈圖案化分佈之標記單元」之「雷射標記」
顯無關聯;至證據3雖部分提及利用複數雷射光於物件表面
形成一圖形,然該證據整體所揭露「多條平行線所構成的圖
案」,難以構成有意義之文字或圖形而無法實現其提供產品
規格、型號或特徵之識別功能,顯不符系爭專利所屬技術領
域「標記」之意義,該證據揭露之技術內容亦與系爭專利於
工件表面形成「呈圖案化分佈之標記單元」之「雷射標記」
無涉;證據6在於研究不同加工參數對雷射加工結構之影響
,其加工結構均為單一凹槽而顯然無法作為雷射標記用,所
揭露技術內容亦與系爭專利「雷射標記」之技術特徵無關,
是證據2、3、6任一技術內容顯與系爭專利「雷射標記」技
術特徵無關而缺乏證據力,且非屬同技術領域。㈡、證據2
利用棱鏡
旋轉組使單一雷射光線通過棱鏡旋轉組而偏移,證
據3則揭露複數雷射光線(24)於工件上畫線,證據2欲應用於
證據3,則證據3每條雷射光線路徑上均須設置個別單一之棱
鏡旋轉組,然此於機構上或結構上顯不可行,且勢將衍生如
數棱鏡旋轉組間無法安排而難以轉動及干涉其他雷射光線行
進等諸多問題;至證據3複數雷射光線欲應用於證據2之棱鏡
旋轉模組,即擬於複數雷射光線路徑上設置一巨大體積之棱
鏡旋轉組而於工件上畫出數個標記時,所形成之數標記將會
重疊而不具辨識功能,
是以,不論係將證據2技術應用至證
據3,抑或將證據3技術應用於證據2,現實上均不可行,強
將二者相結合顯無法實現系爭專利請求項1「複數雷射光依
循一預設封閉曲線之雷射路徑重複行走成形之標記單元呈圖
案化分佈地成形於該物件之表面」技術特徵。㈢、原處分未
檢附任何事證及敘明理由,即逕自臆測雷射光產生環圈狀凹
穴為雷射加工習知技術之運用,此等主觀臆測方式所作成之
處分,業經法院多次認定為不當而撤銷。
按習知雷射加工技
術乃用以切割或移除工件之部分材料,其產生之加工結構向
來係「內部材料全部被移除」之凹穴或凹洞,有別於請求項
1僅移除輪廓而仍保留內部材料之環圈狀凹穴之標記單元技
術特徵,足認被上訴人係基於主觀判斷而悖於
客觀事實,復
未引具事證
以實其說,
益徵原處分違法不當,是證據2、3、
6就系爭專利「雷射標記」之技術特徵顯缺乏證據力,且證
據2、3於客觀上顯難相互組合應用,而習知雷射加工應用亦
未揭露系爭專利「環圈狀凹穴」技術特徵,故請求項1之雷
射標記並非證據2、3、6之組合能輕易完成。㈣、系爭專利
請求項2至4係依附於獨立請求項1,而證據2、3、6既不
足證
明請求項1有違專利法第94條第4項規定,自亦不足證明請求
項2至4有違
上開規定,故請求項2至4應具
進步性等語,求為
判決將訴願決定及原處分均撤銷。
三、被上訴人則略以:㈠、證據2之雷射光焦點繞行除以雷射光
切割或貫穿工件外,亦可於工件上形成非切割、非貫穿之結
構,然系爭專利之標記僅係證據2加工後形成結構之簡易變
化;至證據3不僅形成多條平行線構成之圖案,且於3個馬達
配合操作下,亦可於加工平面形成各種不同圖案,此圖案即
相當於系爭專利之標記;證據6圖5-4至5-7揭示之加工結構
雖為單一凹槽,
惟係利用圖5-3之加工路徑形成之單一凹槽
,於加工路徑可控制基礎下,其標記僅係形成單一凹槽之加
工路徑簡單改變,為所屬技術領域中具通常知識者顯能輕易
完成,是證據2、3技術內容已揭露系爭專利「雷射標記」,
證據6雖未直接揭露系爭專利上開技術特徵,然此僅為技術
內容之簡單改變。㈡、證據2記載雷射光會經由可旋轉棱鏡
而改變行進方向,於棱鏡持續旋轉時,焦點會不斷以圓形繞
行,實已揭露請求項1「單一雷射光依循一預設封閉曲線之
雷射路徑重複行走成形之標記單元呈圖案化分佈地成形於該
物件之表面」技術特徵;證據3記載複數雷射光照射於預先
規劃圖案,已揭露請求項1「複數雷射光成形之標記單元呈
圖案化分佈地成形於該物件之表面」技術特徵,是證據2、3
組合已揭露請求項1「複數雷射光依循一預設封閉曲線之雷
射路徑重複行走成形之標記單元呈圖案化分佈地成形於該物
件之表面」技術特徵。其中證據3所揭露係使用較為複雜的
相位光柵(18),以生數量較多雷射光束(20),惟依加工需求
而改用較簡單之相位光柵以產生數量較少雷射光束,為該所
屬技術領域中具通常知識者顯能輕易完成,故將證據2棱鏡
旋轉組應用於證據3數量較少雷射光束,不生光束干涉或棱
鏡難以轉動現象,而將證據3數量較少雷射光束應用於證據2
棱鏡旋轉模組,亦不會有標記重疊現象,從而,證據2、3組
合已揭露請求項1「複數雷射光依循一預設封閉曲線之雷射
路徑重複行走成形之標記單元呈圖案化分佈地成形於該物件
之表面」技術特徵,況證據2、3均用於雷射加工技術,同技
術領域之機械構件間之組合尚非難以組合。㈢、觀諸證據2
技術內容,若焦點不斷以圓形繞行所形成者即為封閉曲線之
環圈狀凹穴,至證據3說明書及3A圖則揭露「一第3馬達(206
)可驅動定位台(200)旋轉」,故獨以第3馬達驅動定位台旋
轉,可於物件上形成封閉曲線之環圈狀凹穴,而請求項1關
於「環圈狀凹穴」係指「該些標記單元分別為透過加工層數
設定而作精密凹穴深度控制之封閉曲線之環圈狀凹穴」,故
證據2、3揭露之內容足證請求項1「環圈狀凹穴」為習知雷
射加工技術之運用等語,
資為抗辯,並求為駁回上訴人之訴
。
四、參加人另以:㈠、系爭專利所界定雷射標記係以雷射光形成
,凡藉由改變雷射光行進方向使其焦點不斷繞行而形成標記
符號者,理應均與系爭專利之「雷射標記」有關;另觀諸證
據2所揭露雷射加工有關技術,就所屬技術領域中具通常知
識者而言,其揭示利用雷射光行走於封閉軌跡,並控制加工
參數及時間以逐步移除工件卸料,及於工件上形成環圈狀圖
案等技術內容;至證據3揭露使用相位光柵以產生雷射光束
之技術內容,其圖案化設計亦與「雷射標記」有關,同樣揭
示利用雷射光束強度、寬度以精確控制工件上圖案標記;而
證據6則揭露不同種類雷射對應不同材料及加工目的以進行
切割、雕刻、焊接與鑽孔等研究,而物件上雕刻當然可形成
如圖形、數字或文字等雷射標記,其技術內容亦與系爭專利
「雷射標記」有關,並為工件進行雷射光封閉路徑行走及多
層掃描之技術教示,均已揭露系爭專利之技術特徵。㈡、雷
射技術領域中具通常知識者,於
參酌證據2之教示可讓複數
雷射光束透過棱鏡及凸透鏡後聚焦於鏡片組中線之一側,即
可隨棱鏡旋轉而行走於封閉圓形軌跡,已揭露請求項1「複
數雷射光依循一預設封閉曲線之雷射路徑重複行走成形之標
記單元呈圖案化分佈地成形於該物件之表面」技術特徵;況
系爭專利並未界定各雷射標記間距離,若將證據2之兩組棱
鏡旋轉組應用於證據3數量較少之雷射光束,不致產生光束
干涉或棱鏡難以轉動現象,故證據2、3組合不會產生標記重
疊現象。系爭專利說明書就「環圈狀凹穴」係採較細線寬之
雷射光,就該領域通常知識者而言,線寬控制當與雷射光能
量大小有關,
難謂非習知雷射加工技術之運用;而證據2揭
露當焦點不斷以圓形繞行即形成封閉曲線之環圈狀凹穴,故
系爭專利所界定「環圈狀凹穴」確為習知雷射加工技術之運
用,其「雷射標記」僅為已知技術之簡易變化或加工階段所
呈現象而不具進步性。㈢、證據6已為工件進行雷射光封閉
路徑行走及多層掃描之技術教示,就所屬技術領域中具通常
知識者,參酌證據2、6揭示之內容,即能輕易以證據2使雷
射光透過旋轉棱鏡,並控制棱鏡轉速、雷射功率、雷射頻率
、加工時間而控制雷射進給量及加工層數,並配合利用證據
6而形成標記僅係形成單一凹槽之加工路徑簡單改變而完成
系爭專利技術內容,就所屬技術領域中具通常知識者,顯能
利用類似技術以實現系爭專利「透過加工層數設定而作精密
凹穴深度控制之封閉曲線之環圈狀凹穴」技術特徵,又上訴
人諸多主張並未界定於「申請專利範圍」技術內容而納入功
效比對範圍,故所為主張並無理由等語。
五、原審斟酌全辯論意旨及調查證據之結果,以:㈠、系爭專利
藉由分割後複數雷射光按預設封閉曲線之路徑重複運行而成
形之空心環圈狀凹穴,並透過加工層數設定而控制精密凹穴
深度,以避免雷射標記強度過於集中,達到減少工作移除量
與粉塵污染及凹穴深度控制之目的;證據2則藉由雷射加工
於矽基材上製作出相當於雷射標記之微結構,已揭露請求項
1「一種成形於物件上的雷射標記」技術特徵,又該證據藉
由二可旋轉之棱鏡作用,雷射光會不斷以圓形繞行而成封閉
曲線,呈一圖案化分佈地成形於基材表面,並於基材上成形
一空心環圈狀凹穴,已揭露請求項1「雷射光依循一預設封
閉曲線之雷射路徑重複行走成形之標記單元呈圖案化分佈地
成形於該物件之表面、環圈狀凹穴」技術特徵,況系爭專利
第4圖亦顯示螺旋狀雷射路徑,此即預設封閉曲線之雷射路
徑,然證據2圖4-6已揭露雷射標記含括雷射光依循預設封閉
曲線之雷射路徑重複運行成形之標記單元而呈圖案化分佈成
形於矽基材表面;至證據3藉由相位光柵作用,將較大雷射
光束分割成複數較細線寬之雷射光束,經鏡片投射加工於物
件上產生雷射標記,及經兩個馬達驅動以控制複數雷射標記
排列組合形成各種圖案,已揭露請求項1「一種成形於物件
上的雷射標記、複數雷射光及呈圖案化分佈地成形於該物件
之表面」技術特徵。綜上,證據2、3組合後雖未揭露請求項
1「所述之物件為電子產品,該些標記單元分別為透過加工
層數設定而作精密凹穴深度控制之封閉曲線」技術特徵,系
爭專利上開關於雷射標記成形電子產品(物件)係雷射之簡
單運用,雖具有無法預期之功效,該請求項之標記單元透過
加工層數設定,亦較證據2、3組合具有達到控制精密凹穴深
度之封閉曲線功效。惟證據6藉由雷射加工成形於不銹鋼物
件之雷射標記及來回掃描方式,已揭露系爭專利請求項1
上
揭「一種成形於物件上的雷射標記、雷射路徑重複行走成形
之標記單元」技術特徵,該證據所具有精密凹穴深度控制封
閉曲線,已揭露系爭專利請求項1「標記單元分別為透過加
工層數設定而作精密凹穴深度控制之封閉曲線」技術特徵。
㈡、證據2、3、6均屬雷射加工技術領域,可於物件上形成
雷射標記,該所屬技術領域中具通常知識者,當有將
渠等先
前技術加以組合之合理動機;況系爭專利雷射標記所欲解決
之問題係減少雷射強度,然證據2已揭示運用棱鏡旋轉原理
,使基材成型一空心狀雷射標記,並配合第51頁說明雷射功
率調整雷射光之強度,雖未提及使用分割成複數較細線寬調
整雷射光強度,惟證據3已明確教示雷射光束分割成複數較
細線寬之雷射光束,可作為雷射光強度之調整,故所屬技術
領域中具通常知識者有合理動機將證據2、3相結合。另系爭
專利欲解決之問題係深度控制,證據2亦明確教示藉由調整
棱鏡轉速及加工時間作為雷射光加工之深度控制,證據6亦
教示控制加工層數方式以為深度控制,二者與系爭專利解決
問題之性質相同,所屬技術領域中具通常知識者易聯想使用
空心狀雷射標記作為加工層數深度控制,故具有通常知識者
亦有合理動機將證據2、6作結合,當欲解決傳統雷射標記面
臨雷射光強度過於集中等缺失時,參酌證據2揭示使基材成
型一空心狀雷射標記、證據3揭示雷射光束分割成複數較細
線寬之雷射光束及證據6揭示透過加工層數設定而作精密凹
穴深度控制等技術內容,是所屬技術領域中具通常知識者依
證據2、3、6所教示技術內容,基於上開理由自有將渠等先
前技術加以組合之合理動機,而輕易完成請求項1之新型,
並達到解決傳統雷射標記面臨雷射光強度過於集中、投射面
積大所生熱應力影響物件品質,及有效避免雷射光於薄型物
件上形成穿孔之目的,是請求項1為所屬技術領域中具通常
知識者依證據2、3、6等先前技術顯能輕易完成。㈢、證據2
、3、6均屬雷射加工技術領域,且可於物件上形成雷射標記
,是上開證據與系爭專利為相同或相關連技術領域,自可作
為比對專利要件進步性之相關先前技術;證據2已揭露矽基
材上製作出相當於雷射標記之微結構,
而非僅將工件之一部
完全切除而未成形;至證據3複數雷射光束經鏡片投射加工
於物件上產生雷射標記,該多條平行線經兩個馬達驅動可排
列組合形成各種圖案,該圖案係具有辨識功能之雷射標記;
證據6第5-4至5-7圖則揭露成形於不銹鋼物件之單一凹槽,
惟該單一凹槽亦可於物件上形成具辨識功能之雷射標記,故
是否為雷射標記並非取決於凹槽數量多寡,係取決於該工件
上是否形成足使肉眼能清楚辨識之記號。㈣、觀諸證據2教
示基材成型一空心狀之雷射標記、證據3教示複數較細線寬
之雷射光束、證據6教示加工層數設定而作精密凹穴深度控
制等技術內容,上開證據之組合已揭露系爭專利欲解決問題
之技術手段,而先前技術之組合並非侷限於結構之組合,係
包含先前技術揭露所有資訊之組合;況依上開先前技術,僅
需
適當調整複數光源間距及棱鏡旋轉組尺寸大小,即不會產
生雷射光束干涉或雷射標記重疊之情形,前述調整方式亦為
所屬技術領域具通常知識者所能輕易完成,並無結構之組合
會窒礙難行之可能。另請求項1界定之「環圈狀凹穴」,僅
為習知雷射加工技術對鏡片總成設為可360度旋轉或加工平
台設為相對旋轉位移即可達成,該「環圈狀凹穴」技術特徵
仍為習知雷射加工技術之簡單運用,此可由證據2已揭露藉
由二可旋轉棱鏡作用,雷射光會不斷以圓形繞行,呈一圖案
化分佈成形於基材表面,並於基材上成型一空心環圈狀凹穴
,證據3亦揭露利用第3馬達驅動加工平台轉動,可於工件上
形成保留內部材料之環圈狀凹穴的標記單元,證據6則揭露
請求項1「標記單元分別為透過加工層數設定而作精密凹穴
深度控制之封閉曲線」之技術特徵得證。㈤、請求項1之技
術特徵應解釋為複數標記單元係由複數雷射光個別依循一預
設封閉曲線之雷射路徑,重複行走成形複數標記單元,該複
數標記單元排列成圖案化分佈成形於該物件表面,審諸系爭
專利說明書
所載,雷射頭所生複數較細線寬的雷射光,於控
制雷射頭移動或轉動時,該複數雷射光應為個別依循一預設
封閉曲線之雷射路徑重複行走成形複數標記單元,且該複數
標記單元可排列成圖案化,自不可能使該複數雷射光依循同
一封閉軌跡重複行走等技術特徵,均足證該數雷射光係個別
依循一預設封閉曲線之雷射路徑重複行走成形複數標記單元
,故證據3多條雷射光依循多條軌跡行走已揭露上開請求項1
之技術特徵;況證據6亦已揭示單一雷射光可形成一層加工
路徑及可設定加工層數為多層而作精密凹穴深度控制,則該
多層之設定必相應產生複數雷射光依循同一軌跡行走。㈥、
請求項2、3係分別直接依附於獨立請求項1之附屬項,上開
附屬請求項係進一步分別界定請求項1雷射標記中複數標記
單元呈間隔與串聯排列,證據3複數雷射光束投射於物件產
生間隔排列之複數雷射標記單元之技術內容,已揭露請求項
2之附屬技術特徵,至該證據複數標記單元呈串聯排列僅為
排列方式之形狀簡單改變,為所屬技術領域具通常知識者所
易於思及,且綜觀整份說明書亦無該標記單元排列方式有何
無法預期功效之記載,是上開附屬請求項可為所屬技術領域
中具通常知識者依證據2、3、6之先前技術顯能輕易完成,
上開證據組合足證請求項2、3不具進步性;至請求項4係直
接依附於請求項3之附屬項,其附屬技術特徵進一步界定請
求項3該些串聯標記單元為一連續曲線接續形成複數個封閉
環圈狀凹穴之形狀,證據3已揭露間隔排列之複數雷射標記
單元之技術內容,而複數標記單元為一連續曲線接續形成複
數個封閉環圈狀凹穴之形狀,僅為該證據標記單元排列方式
形狀之簡單改變,為所屬技術領域具通常知識者所易於思及
,且綜觀整份說明書,亦無記載該標記單元排列方式有何無
法預期之功效,是請求項4仍可為所屬技術領域中具通常知
識者依證據2、3、6之先前技術顯能輕易完成,其證據組合
足證請求項4不具進步性,故原處分及訴願決定於法並無不
合等語,資為其判斷之論據。
六、上訴人上訴意旨除復執與起訴主張相同之論證外,另以:原
審無視上訴人以舉發證據未能克服系爭專利欲解決雷射光強
度過於集中、投射面積較大及粉塵污染……等技術問題、舉
發證據未能達成系爭專利之功效、舉發證據間不能組合、舉
發證據及其證據組合均未能揭露系爭專利技術特徵……等有
利主張,亦未敘明其不予採酌之理由,復未以各請求項所載
新型整體為對象,亦即未將新型欲解決之問題及其技術手段
對照先前技術之功效作為一整體加以考量,率以請求項1所
載技術特徵作為比對對象,逕行援引舉發證據之圖示推測內
容據為論斷依據,實有悖於
經驗法則,自有判決不適用法規
及不備理由之違法等語。
七、本院查:
㈠、系爭專利申請日為96年4月27日,
嗣經被上訴人96年12月
26日形式審查後准予專利,上訴人於99年7月13日提出系
爭專利申請專利範圍更正本,經審查後於101年11月11日
公告核准更正,嗣被上訴人按上開更正本
重新審查後,於
102年5月22日作成原處分,雖本件為專利法100年11月29
日修正之條文施行前,尚未審定之舉發案,然原處分就系
爭專利是否有應撤銷專利權情事,依現行專利法第119條
第3項規定,應以核准處分時所適用之92年2月6日修正、
93年7月1日施行之專利法(下稱核准時專利法)為斷。
㈡、按利用自然法則之技術思想之創作,對物品之形狀、構造
或裝置之創作,可供產業上利用之發明,得依核准時專利
法第93條、第94條規定,申請取得新型專利。又新型專利
為其所屬技術領域中具有通常知識者依申請前之先前技術
所能輕易完成時,不得申請取得新型專利,同法第94條第
4項定有明文。新型有違反同法第94條第4項規定之情事者
,任何人得附具證據,向專利專責機關提起舉發之(同法
第107條第2項規定
參照)。準此,系爭專利有無違反同法
第94條第4項所定情事而應撤銷其新型專利權,依法應由
舉發人(即參加人)附具證據證明之。又按進步性之判斷
,應就所申請之專利整體觀之,非僅針對個別或部分技術
特徵審究,若該發明所屬技術領域中具有通常知識者依據
先前技術,並參酌申請時之通常知識,顯然可能促使其組
合、修飾、置換或轉用先前技術而完成申請之專利者,應
認該申請不具進步性。又2件以上之先前技術與申請專利
屬相同或相關之技術領域,所欲解決之問題、功能或作用
相近或具關聯性,且為申請專利所屬技術領域具通常知識
者可輕易得知,而有合理組合動機,且申請專利之技術內
容,為組合先前技術所能輕易完成者,則該等先前技術之
組合可據以認定該申請之專利不具進步性(本院102年度
判字第661號判決參照)。經查,本件上訴人前於96年4月
27日以「成形於物件上的雷射標記」申請新型專利,申請
範圍共4項,經被上訴人進行形式審查後准予專利,嗣參
加人以系爭專利有違核准時專利法第94條第1、4項規定,
對之提起舉發,並提出證據2即93年7月發表之國立中山大
學機械與機電工程學系碩士論文「振動式微發電機之振動
結構研究」、證據3即1994年12月13日公告美國第0000000
號「MULTIPLE-LINE LASER WRITING APPARTUS AND METH-
OD」專利案、證據4即證據2之詳細資訊網路頁面、證據5
即100年4月20日比對完成之系爭專利技術報告,以及證據
6即95年7月發表之國立中正大學機械工程學系碩士論文「
水輔助雷射加工不鏽鋼304表面微結構之研究」為證,上
訴人因此乃於99年7月13日提出專利範圍更正,被上訴人
准予更正後並依更正本審查,認系爭專利確有違核准時專
利法第94條第4項規定,因而為「舉發成立,應撤銷專利
權」處分,嗣經上訴人提起訴願,訴願機關認被上訴人有
訴外裁判之情形,被上訴人乃自行撤銷原處分並重為審定
,仍以系爭專利有違
前揭專利法規定而為「請求項1至4舉
發成立應予撤銷」處分,上訴人不服,循序提起訴願及行
政訴訟均遭駁回,遂提起本件上訴。
㈢、經查,上訴人系爭專利創作目的係為解決以傳統雷射雕刻
方法產生標記時因雷射光強度過於集中,且投射面積較大
,容易因熱應力影響致物件產生裂解,或者造成薄物件穿
孔,同時產生大量粉塵,易對機台運作造成干擾,對於雷
射標記的製程影響很大。為解決前述先前技術之缺失,系
爭專利創作之主要目的在於提供一種成形於物件上之雷射
標記,其包括複數標記單元呈圖案化分佈地成形於物件之
表面,該些標記單元分別為雷射光加工成形之封閉曲線環
圈狀凹穴,藉以使該雷射標記維持在肉眼可以辨視之範圍
下,可使較細線寬之雷射光投射於物件上雕刻成形(參附
件系爭專利示意圖)。而依據系爭專利於101年11月11日
公告之更正本記載,系爭專利之申請專利範圍共4項,其
中第1項為獨立項,其餘為附屬項(參原審卷第20頁專利
說明書),分別為:
第1 項:一種成形於物件上的雷射標記,所述之物件為電
子產品,所述之雷射標記係包括複數雷射光依循
一預設封閉曲線之雷射路徑重複行走成形之標記
單元呈圖案化分佈地成形於該物件之表面,該些
標記單元分別為透過加工層數設定而作精密凹穴
深度控制之封閉曲線之環圈狀凹穴。
第2 項:如申請專利範圍第1項所述成形於物件上的雷射
標記,其中該雷射標記中的複數標記單元呈間隔
排列。
第3 項:如申請專利範圍第1項所述成形於物件上的雷射
標記,其中該雷射標記中的複數標記單元呈串聯
排列。
第4 項:如申請專利範圍第3項所述成形於物件上的雷射
標記,其中該些串聯的標記單元為一連續曲線接
續形成複數個封閉環圈狀凹穴之形狀。
㈣、而本件參加人主張系爭專利無效,主要係援引證據2即93
年7月發表之國立中山大學機械與機電工程學系碩士論文
「振動式微發電機之振動結構研究」,其校內公開日
推定
為94年7月21日,早於系爭專利申請日,乃揭示一種採用
355nm UV Nd:YAG雷射加工製作振動結構,具有兩片可調
整相對相位之棱鏡,藉以改變雷射光之路徑,當進行雷射
切割加工時,雷射光將以類似銑刀切削方式進行加工,並
可藉由調整兩片棱鏡之初始相對相位,改變雷射切割之線
寬,此技術成功地在矽基材上加工出深寬比為10,特徵尺
寸為50μm之微結構,可成功地製作圓形式螺旋彈簧為振
動式微發電機之振動結構等技術內容(參附件證據2圖式
所示)。參加人另援引證據3即美國第0000000號「Multi-
ple-line laser writing apparatus and method」專利
案,其公告日期為1994年12月13日,亦早於系爭專利之申
請日(96年4月27日),證據3乃一種多雷射光書寫裝置,
其利用雷射光源所產生之寬廣光束(16),該光束經過間隔
格子板(18)產生複數個雷射光,再由設置之鏡片(22)形成
平行的光束經由鏡子(40)及鏡片(30)來聚焦於工件上,複
數雷射光經鏡面反射照射於物件表面以形成直線圖案,該
複數雷射光可經兩個馬達驅動來進行控制以產生想要的圖
案等技術內容(參附件證據3之圖式所示)。另參加人所
援引之證據6為95年7月發表之國立中正大學機械工程學系
碩士論文「水輔助雷射加工不鏽鋼304表面微結構之研究
」,出版年為2006年,以該年之末日推定其公開日期為95
年12月31日,早於系爭專利之申請日(96年4月27日),
證據6乃一種水輔助雷射加工不鏽鋼304表面微結構之研究
,其第71頁第5-4至5-7圖顯示於不銹鋼物件形成雷射標記
,第70頁第4至6行則揭示「每層加工路徑如圖5-3所示,
先掃描輪廓線再開始從內部進行Y方向Zig-Zag方式來回掃
描整層」之雷射路徑重複行走,可於不銹鋼物件表面呈現
圖案化之分佈,第71頁表5-1則顯示加工層數10、20、30
、50層之設定等技術內容(參附件證據6圖式所示)。如
前所述,上訴人主張其為解決先前技術之缺失,利用複數
雷射光依循一預設封閉曲線之雷射路徑重複行走成形之標
記單元呈圖案化分佈地成形於該物件之表面,該些標記單
元分別為透過加工層數設定而作精密凹穴深度控制之封閉
曲線之環圈狀凹穴(第1項)。然查,證據2已揭露於矽基
材上製作出相當於雷射標記之微結構,證據3第1圖亦已揭
露多雷射光書寫裝置,利用雷射光源照射物件表面,可形
成直線圖案;另證據6則揭露利用水輔助雷射加工於不鏽
鋼表面以形成雷射標記等技術,上開3證據均係有關以雷
射光源於物件表面形成雷射標記之技術,雖上開證據並未
揭露所謂之物件為電子產品,惟使用雷射光源在物件上形
成標記既屬系爭專利申請前已知之技術,則將此種技術使
用在電子產品上,僅屬雷射技術之簡單應用,且並未產生
無法預期之功效。至於系爭專利申請專利範圍第1項所揭
露之標記單元透過加工層數設定,雖較之證據2、3之組合
更具有達到做精密凹穴深度控制之封閉曲線功效,惟此部
分技術特徵亦為證據6第70頁第4行至第6行所載之「每層
加工路徑如圖5-3所示,先掃描輪廓線再開始從內部進行
Y方向Zig-Zag方式來回掃描整層之雷射路徑重複行走之
可呈圖案化分佈地成形於不鏽鋼物件該物件之表面」技術
特徵所揭露,蓋依證據6上揭所載內容,可知證據6係揭示
藉由雷射加工於不鏽鋼物件表面以形成標記,同時藉由來
回掃描整層以達到精密凹穴深度控制封閉曲線之效果,是
系爭專利申請專利範圍第1項之「標記單元分別為透過加
工層數設定而作精密凹穴深度控制之封閉曲線之環圈狀凹
穴」技術特徵已為證據6所揭露。至系爭專利申請專利範
圍第2項所揭露之「其中該雷射標記中的複數標記單元呈
間隔排列」之技術特徵部分,經查,證據3圖1揭示其「寬
廣雷射光束(16)經間隔格子板(18)產生之複數雷射光束(2
4)於鏡片成呈間隔排列,並經反光鏡(26a-26e)及透鏡(30
a-30e)投射於物件表面(28)上」技術內容,由其所揭示之
內容可知,證據3之複數雷射光束於經由間隔格子板18(
或稱相位光柵)時,已分析呈複數雷射光束,經分析所出
之每一雷射光束藉由反光鏡折射,再藉由透鏡聚焦投射於
物件上時,因每一雷射光束於分析呈複數雷射光束時
彼此
間已
有間隔,其投射在物件上以形成標記單元時,各標記
單元間亦因而呈現間隔排列情形,由是可知,系爭專利申
請專利範圍第2項之技術特徵亦為證據3所揭露。至系爭專
利申請專利範圍第3項所揭露之「其中該雷射標記中的複
數標記單元呈串聯排列」特徵部分,此部分主要之差異乃
在於標記單元彼此間呈「串聯排列」,經查,標記單元間
之排列方式,乃屬形狀之簡易變換,所屬技術領域中具有
通常知識者於使用雷射光束在物件上標記單元時,單元與
單元間究係間隔排列抑或串聯排列,並非難以思及之技術
內容,上訴人就系爭專利申請專利範圍第3項
所稱之串聯
排列究
竟能夠產生何種無法預期之功效,均未說明,則此
種排列上之改變,自為所屬技術領域中具有通常知識者輕
易思及之轉變,不具進步性。另就系爭專利申請專利範圍
第4項部分,其所揭露者為「其中該些串聯的標記單元為
一連續曲線接續形成複數個封閉環圈狀凹穴之形狀」技術
特徵,經查,證據3之複數雷射光束藉由反光鏡折射,再
藉由透鏡聚焦投射於物件上形成雷射標記單元時,其每一
雷射光束行進之方式即係以環狀方式進行,其所形成之標
記單元即為封閉環圈狀凹穴,此參酌證據2圖4-6揭示之連
續曲線時所呈現之行進方式為環圈狀,以及證據2第43頁
(即被上訴人00000000N01舉發卷第15頁背面)述及雷射
光束因棱鏡持續旋轉,焦點會不斷以圓形繞行等語,可知
每一雷射光束於行進時其焦點不斷以圓形繞行即明。是系
爭專利申請專利範圍第4項所揭示之技術特徵僅為證據2與
證據3之簡單變化,為所屬技術領域中具有通常知識者易
於思及之技術,且此種連續複數個封閉環圈狀凹穴有何無
法預期之功效,亦未見上訴人說明,則證據2、3、6之組
合,自足以證明系爭專利申請專利範圍第4項不具進步性
。
㈤、上訴人提起本件上訴,除仍執陳詞再為主張外,並
指摘原
審無視舉發證據未能克服系爭專利欲解決雷射光強度過於
集中、投射面積較大及粉塵污染等技術問題以及舉發證據
間不能組合,且舉發證據及其證據組合均未能揭露系爭專
利技術特徵
云云。
惟查,證據2、證據3與證據6均屬雷射
加工之技術領域,此部分業經原審說明在案(參原審判決
第31頁,原審將理由欄編號④誤載為編號⑤),而系爭專
利所揭露之技術特徵,復為上開舉發證據所揭露,是以,
於雷射加工之技術領域中具有通常知識者,為解決上訴人
所稱先前技術之上開缺失時,於參酌上開證據所揭示之技
術內容,自可輕易加以組合,亦有組合之動機。原審就此
部分論證之過程已詳加說明,上訴人指摘原審
判決理由不
備云云,自非可採。至於原審援引舉發證據之圖式說明舉
發證據之技術內容,亦未違反說明書及圖式作為輔助說明
技術內容之規範,況證據2與證據6論文中對於圖式內容均
有文字輔助說明,其說明內容亦臻
綦詳,上訴人就此指摘
原審判決有悖經驗法則,而有判決不適用法規之違法云云
,
亦屬無據。
㈥、從而,原審分別以證據2、3與證據6之組合足以證明系爭
專利申請專利範圍第1、2、3、4項不具進步性,有違核准
時即修正前專利法第94條第4項規定,認為被上訴人就本
件專利舉發案為系爭專利請求項1至4舉發成立,應予撤銷
之處分,並無
違誤,訴願決定
予以維持,亦無不合,據此
駁回上訴人原審之訴,依上說明,應無違誤。上訴人上訴
論旨,就原審已經審酌之事項,指摘未為敘明,並再為主
張,指摘原
判決違背法令,求予廢棄改判,自無理由,應
予駁回。
八、據上論結,本件上訴為無理由。依智慧財產案件審理法第1
條及行政訴訟法第255條第1項、第98條第1項前段,判決如
主文。
中 華 民 國 104 年 4 月 30 日
最高行政法院第二庭
審判長法官 劉 鑫 楨
法官 吳 慧 娟
法官 蕭 忠 仁
法官 劉 穎 怡
法官 汪 漢 卿
以 上 正 本 證 明 與 原 本 無 異
中 華 民 國 104 年 4 月 30 日
書記官 莊 子 誼